数字式局部放电检测仪

数字式局部放电检测仪焦作

焦作手持式超声波局部放电检测仪 非接触超声法将传感器放在设备外壳缝隙处，适用于高压开关柜、环网柜的局放检测，能有效检出气体杂质，技术参数：检测频率：中心频率40kHz；测量范围：0～80dBμV；灵敏度：-65dB（0dB ＝ 1volt/ubar?有效值SPL）。2.3.3 超声法a）、接触式超声传感器将传感器贴在外壳表面，适用于GIS、变压器、全绝缘开关柜（环网柜）的局放检测，能有效检出固体绝缘缺陷，技术参数：检测频率：20～200kHz；测量范围：0-30mV；灵敏度：≤5 Pc。b）、非接触式超声传感器将非接触式超声传感器正对开关柜，等电气设备的的缝隙处，可有效检测出开关柜等非封闭设备的绝缘缺陷；谐振频率：40kHz；动态范围：-6～80dBuV。2.3.4 UHF超高频法将传感器置于盆式绝缘子处，适用于GIS、HGIS局放检测技术参数：检测频率：300～1500MHz；灵敏度：≤1PC（实验室环境）。2.3.5 暂态地电压（TEV）法将传感器贴在开关柜外壳表面，适用于高压开关柜（环网柜）的局放检测，技术参数：信号采集：电容耦合；频率范围：3～100MHz；测量范围：0～60dB/mV；灵敏度：1mV。

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焦作手持式超声波局部放电检测仪 非接触超声法将传感器放在设备外壳缝隙处，适用于高压开关柜、环网柜的局放检测，能有效检出气体杂质，技术参数：检测频率：中心频率40kHz；测量范围：0～80dBμV；灵敏度：-65dB（0dB ＝ 1volt/ubar?有效值SPL）。2.3.3 超声法a）、接触式超声传感器将传感器贴在外壳表面，适用于GIS、变压器、全绝缘开关柜（环网柜）的局放检测，能有效检出固体绝缘缺陷，技术参数：检测频率：20～200kHz；测量范围：0-30mV；灵敏度：≤5 Pc。b）、非接触式超声传感器将非接触式超声传感器正对开关柜，等电气设备的的缝隙处，可有效检测出开关柜等非封闭设备的绝缘缺陷；谐振频率：40kHz；动态范围：-6～80dBuV。2.3.4 UHF超高频法将传感器置于盆式绝缘子处，适用于GIS、HGIS局放检测技术参数：检测频率：300～1500MHz；灵敏度：≤1PC（实验室环境）。2.3.5 暂态地电压（TEV）法将传感器贴在开关柜外壳表面，适用于高压开关柜（环网柜）的局放检测，技术参数：信号采集：电容耦合；频率范围：3～100MHz；测量范围：0～60dB/mV；灵敏度：1mV。

焦作手持式超声波局部放电检测仪定位功能打开设置面板，将《特殊功能》改为定位，会出现图6.26的面板，波形显示区域会多出两个蓝色的游标（如图6.27），拖动游标，然后会自动将两个游标间的时间差显示到定位面板的《测量时差》一栏中。，可以手动天道对应的位置，也可以勾《选自动填入》，然后点击对应的位置，就会自动将数字测量时差的值填入。说明：测量位置是以4＊4的网格为坐标系，左上角为原点坐标，中间的9个点分别对应面板中的9个位置。设置填好9个位置的时差并设置好参数，点击计算就可的出放电点的空间位置坐标。图6.26图6.276.10 长时采集功能打开设置面板，将《特殊功能》改为长时，会出现图6.28的面板，设置好参数点击应用即可，该功能可以连续采集长时间的波形图6.28七、注意事项7.1使用仪器之前，请仔细阅读本使用说明书；7.2当实验使用到超声波传感器时，请在传感器陶瓷基板端涂抹超声耦合剂，再吸附在被测设备外壳上，以便更好的采集信号；7.3在试验过程中，不同的传感器测量时，应在“参数设置”项中正确设置参数，以确保测量准确；7.4在仪器使用过程中，设备需轻拿轻放，避免磕碰；7.5实验完毕后，请及时对主机进行充电，方便下次使用；7.6关闭仪器时请使用软关机，并不需要其他特别的操作。

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焦作手持式超声波局部放电检测仪采用标准本手持式局放测试仪（TH-9003）的设计采用以下标准：GB/T 7354-2003局部放电测量；GB 4793.1-2007 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分：通用要求；GB/T 2423.8-1995 电工电子产品基本环境试验规程；GB 2900电工名词术语；GB/T 16927 高电压试验技术；DL/T 356-2010局部放电测量仪校准规范；DL/T 417-2006电力设备局部放电现场测量导则；IEC1000电磁兼容性。二、操作注意1、使用仪器之前，请仔细阅读本使用说明书。2、在试验过程中，不同的传感器测量时，应在“参数设置”项中正确设置参数，以确保测量准确。3、检测过程中若需更换传感器检测，需将“输出电压”关闭。4、在仪器使用过程中，设备需轻拿轻放，避免磕碰。5、实验完毕后，请及时关闭电源并对主机进行充电。三、概 述TH-9003手持式局放测试仪是我公司技术人员根据多年局放检测经验，适用于对高压设备局部放电在线检测及定位。该系统配备复合式TEV传感器、超高频传感器、高频电流互感器及高灵敏度超声波传感器来采集高压设备内部局部放电信号。系统采用多级检波降频技术来降低放电信号的频率，同时采用高速AD转换电路完成信号的数字化，并通过数字信号处理、自适应滤波等干扰信号处理方式保证了检测数据的可靠性。通过采集不同高压设备内部局部放电产生的不同信号可对设备的运行状态进行快速带电检测。该仪器可在设备运行状态下进行安装检测，对设备的正常运行没有任何影响，便于工作人员及时对开关柜的运行状态进行评估，大大提高设备运行的可靠性、安全性和有效性。TH-9003手持式局放测试仪由测试仪主机、专用局部放电检测软件、复合式TEV传感器、超声波传感器、高频电流互感器、超高频传感器以及连接线组成。

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焦作手持式超声波局部放电检测仪依据标准本仪器引用的标准主要有：DL/T500-2009电压检测仪使用技术条件GB/T4208-2008外壳防护等级的分类（IP代码）GB/T2423.1-2001电工电子产品基本环境试验规程 试验 A: 低温试验方法GB/T2423.2-2001电工电子产品基本环境试验规程 试验 B: 高温试验方法GB/T2423.4-1993电工电子产品基本环境试验规程 试验 Db: 交变湿热试验方法GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则：冲击试验方法GB/T2423.10-1995电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc和导则:振动 (正弦)试验方法GB/T17626.2-2006电磁兼容性试验和测量技术 静电放电抗扰度性试验（IEC 61000-4-2：1995）GB/T17626.3-2006电磁兼容性试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验（ IEC 61000-4-3：1995）GB/T17626.4-2008电磁兼容性 试验和测量技术 快速瞬变电脉冲群抗扰度试验（ IEC 61000-4-4：1995）GB/T17626.5-2008电磁兼容性试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验（ IEC 61000-4-5：1995）GB/T17626.11-1999电磁兼容性试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验（ IEC 61000-4-11：1994）GB/T17626.7-1998电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则GB/T19862-2005工业自动化仪表绝缘电阻、绝缘强度技术要求和试验方法3、功能说明本仪器主要由主机、传感器和电缆线组成，主机外观如图1：图1 主机3.1主机内置高速AD采集卡、TFT液晶显示器、主处理器和锂电池及其管理板。使用FPGA对高速采样芯片进行控制，如启动采样、停止采样、数据同步、高速数据存取以及数据通信。

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焦作手持式超声波局部放电检测仪显示器存储功能操作方法：（液晶显示器显示界面）模式选择 AUTO/SIGN/NONE连续检测/单次检测/慢扫描伏值/Div 通过移动键调整伏值参数的大小。时间/Div 通过移动键调整时间参数的大小。（文件存储 FS） 当光标处于此位置时，在分贝值显示区域（右下角）会出现如Save File001标识，按“ ”键进行存储。(文件调入FL) 当光标处于此位置时，在分贝值显示区域（右下角）会出现如Load File001标识，按“ ”键进行存储。采样平均次数(Nm) 当光标处于此位置时，在分贝值显示区域（右下角）会出现如NUMave＝025标识，移动上、下键改变数值的大小，调整显示波形的采样频率。电池状态 电池电量指示。时间显示区 通过移动调整时间。分贝值显示 用于dB值显示。运行/暂停 按“ ”键进行运行、暂停切换状态。左右两键为移动光标键。①显示屏从左上角开始个方框为显示模式，开机后不用操作，让其处于NONE模式即可。②第二、三个方框为纵、横坐标尺度，当光标在其上时，按＋、-键可改变大小（其中纵坐标要改变尺度大小，需长按＋、-键）。③第四个方框FS为存储，当光标在其上时，按＋、-键可选择要存储的位置文件，存储则按M键。存储方式是覆盖（无需删除），显示器在正常工作的情况下，按下M键，存储成功则存储的位置跳向下一个文件。④第五个方框FL为读取，当光标在其上时，按＋、-键可选择要读取的文件，M键为确认键。显示的紫色波形为读取波形。也可连接计算机通过专用软件读取波形。⑤第六、八个框不用操作。⑥第七个框Nm为dB值显示的采样平均数，按＋、-键可改变平均的个数。⑦左下角为显示时间框，通过移动光标以及按＋、-键可设置时间。开机后都要重新设置时间，便于读取数据时查看日期。⑧右上角为电池状态。右下角方框为显示器运行状态。上方的按键为暂停键。

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焦作手持式超声波局部放电检测仪测量注意事项主机开启后，确保TEV传感器处在离开金属体的自由空间中，否则会影响自检。选择TEV模式。为了进行测量，应该使TEV传感器垂平行与在其上面要进行测量的金属体接触。如果仪器处在连续测量模式，则应该立即显示读数，但是一旦TEV传感器从金属体上拆下后读数就不再在显示屏上继续显示。如果是在单次测量模式，则一旦按下按钮，在这种模式下，读数会保留显示在显示屏上。如需要确保一致性，可以重复测量几次。对于开关柜的测量是在每一个面板的每一个部件如电缆盒、电流互感器室、母排室、断路器以及电压互感器等的中心位置进行的。断路器以及其它中高压开关仪器的位置都要记录下来，因为如果这些仪器处于断开的位置，则某些部件就不会带电，因此这些部件上不会测到读数。记录每一个位置上的组读数。但是如果测到的幅值比背景干扰水平高出10dB，本身幅值大于20dB时，应该连续记录三组以上读数。6、保存使用手持式局放测试仪进行检测，若想保存当前检测到的放电信号时，需准备一个U盘进行存储图形。保存图片：单击”SAVE/RECALL”，打卡保存/调出菜单栏，单击“图片”对应的F5按键进行存储，此时的放电信号将被存储到U盘。检测结束后，将U盘插入电脑，可将检测时存储的放电信号波形打开。

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焦作手持式超声波局部放电检测仪数据保存设置在主界面菜单栏处选择《文件》-＞《保存选项》（如图6.3所示），（其中《打开路径》菜单是打开《保存选项》中设置的文件夹）弹出保存选项对话窗口。点击保存路径后的按钮可以进行保存路径选择。可以设置波形图像的保存格式，设置好后点击应用并退出。（注意：试验数据保存在此设定的路径下）图6.3 保存选项菜单图6.4 保存选项窗口6.3 《视图》菜单在主界面菜单栏处选择《视图》-＞《显示缩放窗口》（如图6.5所示），这样在放大波形是就不会显示波形的缩放图谱了，再次执行此命令则是显示波形否所放图谱。图6.5 缩放窗口开关6.4 建立试验在主界面菜单栏处选择《试验报告》-＞《试验列表》，弹出“实验列表”窗口（如图6.6所示），点击《添加试验》，然后在相应的空白处输入“试品名称”、“试品型号”、“试验人员”、“试验日期”、等基本情况，点击《完成》按钮（如图6.7所示）添加试验完成。或者也可以从试验列表里选择已经建立的试验项目（如图6.8所示），可以点击《修改》以修改试验信息。填写或选择完成后关闭即可。图6.6图6.7图6.86.5 参考波形在主界面菜单栏处选择《试验报告》-＞《参考波形》，可弹出《参考波形》面板（如图6.9），其中列举了几种常见的放电类型和干扰源类型。图6.96.5 设置参数点击《设置参数》-＞《设置》（如图6.10），或者点击快捷菜单的图标，弹出参数设置窗口

焦作手持式超声波局部放电检测仪显示器存储功能操作方法：（液晶显示器显示界面）模式选择 AUTO/SIGN/NONE连续检测/单次检测/慢扫描伏值/Div 通过移动键调整伏值参数的大小。时间/Div 通过移动键调整时间参数的大小。（文件存储 FS） 当光标处于此位置时，在分贝值显示区域（右下角）会出现如Save File001标识，按“ ”键进行存储。(文件调入FL) 当光标处于此位置时，在分贝值显示区域（右下角）会出现如Load File001标识，按“ ”键进行存储。采样平均次数(Nm) 当光标处于此位置时，在分贝值显示区域（右下角）会出现如NUMave＝025标识，移动上、下键改变数值的大小，调整显示波形的采样频率。电池状态 电池电量指示。时间显示区 通过移动调整时间。分贝值显示 用于dB值显示。运行/暂停 按“ ”键进行运行、暂停切换状态。左右两键为移动光标键。①显示屏从左上角开始个方框为显示模式，开机后不用操作，让其处于NONE模式即可。②第二、三个方框为纵、横坐标尺度，当光标在其上时，按＋、-键可改变大小（其中纵坐标要改变尺度大小，需长按＋、-键）。③第四个方框FS为存储，当光标在其上时，按＋、-键可选择要存储的位置文件，存储则按M键。存储方式是覆盖（无需删除），显示器在正常工作的情况下，按下M键，存储成功则存储的位置跳向下一个文件。④第五个方框FL为读取，当光标在其上时，按＋、-键可选择要读取的文件，M键为确认键。显示的紫色波形为读取波形。也可连接计算机通过专用软件读取波形。⑤第六、八个框不用操作。⑥第七个框Nm为dB值显示的采样平均数，按＋、-键可改变平均的个数。⑦左下角为显示时间框，通过移动光标以及按＋、-键可设置时间。开机后都要重新设置时间，便于读取数据时查看日期。⑧右上角为电池状态。右下角方框为显示器运行状态。上方的按键为暂停键。

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焦作手持式超声波局部放电检测仪2.2.软件操作说明用户可以根据自己的需求，利用系统软件，为每次试验建立试验档案，填写检测说明信息，保存检测数据，以便将检测数据与检测信息对应起来。 在桌面有SCJF-V4.0.EXE快捷方式，双击，根据操作指示进入测量界面。当软件次启动时，系统会出现“试验设置”对话框，提醒用户填写试验信息，同时可以对试验列表进行查看和删除某个试验，当单击试验列表中某个试验时，试验信息区将显示对应试验信息。如果你点击取消按钮，不建立自己的试验档案，系统软件也可以快速建立默认数据库quik_test.db3，保证完成试验数据的存储。软件会在硬盘D:TESTV4.X\test中建立存储目录以保存数据，例如：试验名称为： TEST1则检测数据存储路径为：D:TESTV4.0\test\test1所有的检测原始数据都以二进制方式保存以节省存储空间，所有的记录数据都存储在SQLite数据库中，以备生成报告使用。利用本系统进行检测检测数据都存储在硬盘中，也可以导出到PC机进行备份。历史数据可以被加载入系统进行追踪分析。试验设置对话框：图2.2-1试验设置对话框当上述参数均设置完毕后，点击开始试验进行试验。